80 Gbps, 高速差动DP3T直流耦合回路微机电开关
MM5627
MM5627 是一款80 Gbps 差动回路射频微机电开关,专为高速数位系统中的讯号切换与验证测试应用而设计。产品支援PCIe Gen5、PCIe Gen6 及高速SerDes 等新一代介面,可有效实现差动讯号的切换与回路测试,适用于先进半导体测试与验证环境。
MM5627 采用Menlo Micro Ideal Switch® 技术,具备优异的讯号完整性表现,提供低插入损耗、快速切换速度与20 GHz 频宽。每组差动通道皆可独立控制,并支援多达128 种可程式化切换状态,可灵活应用于多通道且复杂的测试架构。
本产品采用直流耦合设计,工程师可依实际需求配置外部讯号调整元件,提升高速通道设计的弹性与调整空间,有助于在AI 处理器验证、高速数位测试及新一代半导体开发中达到最佳化效能。
产品优势
透过Menlo Micro Ideal Switch®,MM5627 可在20 GHz 频宽下提供稳定且高品质的DC-coupled 差动讯号切换能力,并支援最高80 Gbps 资料速率。每组差动通道皆可独立控制,搭配128 种切换状态,使工程师能灵活建立复杂的讯号路由与回路测试架构,适用于高密度多通道验证平台。
MM5627 具备低插入损耗、快速切换与超过30 亿次切换寿命,可在严苛的高速测试环境中维持稳定可靠的性能。其DC-coupled 设计亦提供更高的系统设计弹性,让工程师可透过外部电容或讯号调整元件,针对PCIe Gen5/Gen6、SerDes 等高速介面进行最佳化通道设计。
系统整合
MM5627 采用紧凑的System-in-Package (SiP) 架构,将开关驱动器与电荷帮浦整合于单一封装中,有助于简化高速测试板设计并降低系统复杂度。透过SPI 介面,可轻松与主控处理器或自动化测试控制系统整合。
此架构支援多通道可扩展的讯号路由与回路功能,非常适合应用于自动化测试设备(ATE)中的平行测试架构。同时,其小型化设计可有效降低PCB 面积,满足高密度半导体测试平台与高速讯号验证系统的需求。
产品特性
- DC to 20 GHz range, up to 80 Gbps
- 差分传输, 双DP3T
- 插入损耗2.3dB @ 20GHz De-embed
- 微机电制成
- 30亿回寿命
- SPI 与GPIO 控制介面
- 8.2 mm x 8.2 mm LGA
- 128 种可程式化切换状态
接点形式
- 差分傳輸, 雙DP3T, 常開、反射式致動器
频率
- DC to 20 GHz
导通电组(Ω)
- 1.7 Ω (HS to MS/LS, MS to LS), up to 4.0 Ω
- 3.4 Ω (HS to HS, MS to MS, LS to LS), up to 8.0 Ω
插入损耗[差分传输]
- 2.3 dB @ 20 GHz (HS1 to HS2)
- 1.5 dB @ 16 GHz (HS1 to HS2)
- 2.3 dB @ 16 GHz (MS1 to MS2)
- 0.9 dB @ 16 GHz (HS1 to MS1)
- 1.3 dB @ 16 GHz (HS2 to MS2)
- 2.3 dB @ 16 GHz (HS1 to MS2)
- 1.9 dB @ 16 GHz (MS1 to HS2)
反射损耗[差分传输]
- 22 dB @ 20 GHz (HS1 to HS2)
- 27 dB @ 16 GHz (HS1 to HS2)
- 22 dB (MS1 to MS2)
- 45 dB (HS1 to MS1)
- 29 dB (HS2 to MS2)
- 20 dB (HS1 to MS2)
- 21 dB (MS1 to HS2)
隔离度[差分传输]
- 48 dB @ 20 GHz (HS1 to HS2)
- 52 dB @ 16 GHz (HS1 to HS2)
- 36 dB @ 16 GHz (MS1 to MS2)
- 41 dB @ 16 GHz (HS1 to MS1)
- 43 dB @ 16 GHz (HS2 to MS2)
- 44 dB @ 16 GHz (HS1 to MS2)
- 64 dB @ 16 GHz (MS1 to HS2)
静电防护
- 150 V (RF pins)
- 2000 V (Control/Power pins)
- 500 V (VPP pin)
产品应用
- 高速数据数位元件测试
- 光电模组测试
- 高速信号路由
- ATE设备介面板
- 光电模组测试
- 差分开关矩阵
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