80 Gbps, 高速差動 DP3T直流耦合迴路微機電開關
MM5627
MM5627 是一款 80 Gbps 差動迴路射頻微機電開關,專為高速數位系統中的訊號切換與驗證測試應用而設計。產品支援 PCIe Gen5、PCIe Gen6 及高速 SerDes 等新一代介面,可有效實現差動訊號的切換與迴路測試,適用於先進半導體測試與驗證環境。
MM5627 採用 Menlo Micro Ideal Switch® 技術,具備優異的訊號完整性表現,提供低插入損耗、快速切換速度與 20 GHz 頻寬。每組差動通道皆可獨立控制,並支援多達 128 種可程式化切換狀態,可靈活應用於多通道且複雜的測試架構。
本產品採用直流耦合設計,工程師可依實際需求配置外部訊號調整元件,提升高速通道設計的彈性與調整空間,有助於在 AI 處理器驗證、高速數位測試及新一代半導體開發 中達到最佳化效能。
產品優勢
透過 Menlo Micro Ideal Switch®,MM5627 可在 20 GHz 頻寬下提供穩定且高品質的 DC-coupled 差動訊號切換能力,並支援最高 80 Gbps 資料速率。每組差動通道皆可獨立控制,搭配 128 種切換狀態,使工程師能靈活建立複雜的訊號路由與迴路測試架構,適用於高密度多通道驗證平台。
MM5627 具備低插入損耗、快速切換與超過 30 億次切換壽命,可在嚴苛的高速測試環境中維持穩定可靠的性能。其 DC-coupled 設計亦提供更高的系統設計彈性,讓工程師可透過外部電容或訊號調整元件,針對 PCIe Gen5/Gen6、SerDes 等高速介面進行最佳化通道設計。
系統整合
MM5627 採用緊湊的 System-in-Package (SiP) 架構,將開關驅動器與電荷幫浦整合於單一封裝中,有助於簡化高速測試板設計並降低系統複雜度。透過 SPI 介面,可輕鬆與主控處理器或自動化測試控制系統整合。
此架構支援多通道可擴展的訊號路由與迴路功能,非常適合應用於自動化測試設備(ATE)中的平行測試架構。同時,其小型化設計可有效降低 PCB 面積,滿足高密度半導體測試平台與高速訊號驗證系統的需求。
產品特性
- DC to 20 GHz range, up to 80 Gbps
- 差分傳輸, 雙DP3T
- 插入損耗 2.3dB @ 20GHz De-embed
- 微機電製成
- 30億回壽命
- SPI 與 GPIO 控制介面
- 8.2 mm x 8.2 mm LGA
- 128 種可程式化切換狀態
接點形式
- 差分傳輸, 雙DP3T, 常開、反射式致動器
頻率
- DC to 20 GHz
導通電組 (Ω)
- 1.7 Ω (HS to MS/LS, MS to LS), up to 4.0 Ω
- 3.4 Ω (HS to HS, MS to MS, LS to LS), up to 8.0 Ω
插入損耗 [差分傳輸]
- 2.3 dB @ 20 GHz (HS1 to HS2)
- 1.5 dB @ 16 GHz (HS1 to HS2)
- 2.3 dB @ 16 GHz (MS1 to MS2)
- 0.9 dB @ 16 GHz (HS1 to MS1)
- 1.3 dB @ 16 GHz (HS2 to MS2)
- 2.3 dB @ 16 GHz (HS1 to MS2)
- 1.9 dB @ 16 GHz (MS1 to HS2)
反射損耗 [差分傳輸]
- 22 dB @ 20 GHz (HS1 to HS2)
- 27 dB @ 16 GHz (HS1 to HS2)
- 22 dB (MS1 to MS2)
- 45 dB (HS1 to MS1)
- 29 dB (HS2 to MS2)
- 20 dB (HS1 to MS2)
- 21 dB (MS1 to HS2)
隔離度 [差分傳輸]
- 48 dB @ 20 GHz (HS1 to HS2)
- 52 dB @ 16 GHz (HS1 to HS2)
- 36 dB @ 16 GHz (MS1 to MS2)
- 41 dB @ 16 GHz (HS1 to MS1)
- 43 dB @ 16 GHz (HS2 to MS2)
- 44 dB @ 16 GHz (HS1 to MS2)
- 64 dB @ 16 GHz (MS1 to HS2)
靜電防護
- 150 V (RF pins)
- 2000 V (Control/Power pins)
- 500 V (VPP pin)
產品應用
- 高速數據數位元件測試
- 光電模組測試
- 高速信號路由
- ATE設備介面板
- 光電模組測試
- 差分開關矩陣
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