80 Gbps, DP3T 交流耦合高速差分回路微机电开关
MM5625
MM5625 为专为新世代PCIe Gen5/Gen6、SerDes 以及各类高速数位测试环境打造的高速差动回授切换开关。其资料传输速度最高可达80 Gbps，频宽达20 GHz，具备低插入损耗、快速切换与长循环寿命等特性。每组差动通道皆可独立控制，可在128 种切换状态间灵活配置讯号路径。
MM5625 采用紧凑的SiP 系统封装，内建驱动器、电荷帮浦与回授电容，有效降低PCB 面积并简化整体系统设计。其全速差动性能并支援多通道并行测试架构，非常适合用于处理器、加速器、绘图晶片、网路晶片与高速记忆体等装置的生产测试与高速讯号验证。
产品特点
MM5625 采用Menlo Micro 的Ideal Switch® 技术，能在宽达20 GHz 的频宽内维持高纯度的AC 耦合高速差动讯号品质。其独立通道控制与多组路径切换能力，提供高密度、多通道测试平台所需的弹性。超过30 亿次的切换寿命也确保其在PCIe Gen5/Gen6、SerDes 与其他高速度数位介面测试中的长期可靠度。
系统整合
MM5625 以SiP 架构将驱动电路、电荷帮浦与回授电容整合于单一模组中，降低PCB 占用并简化高速测试系统的硬体设计。其SPI 介面可与主控制器无缝连接，提供可扩展的回授切换能力，适用于ATE 自动化测试、产线量产测试，以及高速讯号完整性验证平台。
产品特性
- Menlo Micro提供的Ideal Switch®技术
- DC至20 GHz频宽
- 双DP3T配置,支持回路回路功能
- 低插入损耗：2.7 dB @ 20 GHz
- 内建交流耦合电容
- 高可靠性：超过30亿次开关循环
- 支援SPI或GPIO介面控制
- 提供多达128 种切换控制状态
- 紧凑的8.2 x 8.2 mm LGA封装
接点形式
- 差分傳輸, 雙DP3T, 常開、反射式致動器
频率
- DC to 20 GHz
导通电组(Ω)
- 1.7 Ω (HS to MS/LS, MS to LS), up to 4.0 Ω
插入损耗[差分传输]
- 2.7 dB @ 20 GHz (HS1 to HS2)
- 1.6 dB @ 16 GHz (HS1 to HS2)
- 2.2 dB @ 16 GHz (MS1 to MS2)
- 0.7 dB @ 16 GHz (HS1 to MS1)
反射损耗[差分传输]
- 18 dB @ 20 GHz (HS1 to HS2)
- 29 dB @ 16 GHz (HS1 to HS2)
- 35 dB (MS1 to MS2)
- 17 dB (HS1 to MS1)
- 26 dB (HS2 to MS2)
隔离度[差分传输]
- 46 dB @ 20 GHz (HS1 to HS2)
- 52 dB @ 16 GHz (HS1 to HS2)
- 54 dB @ 16 GHz (MS1 to MS2)
- 58 dB @ 16 GHz (HS1 to MS1)
- 45 dB @ 16 GHz (HS2 to MS2)
静电防护
- 150 V (RF引腳)
- 2000 V (控制/電源引腳)
- 500 V (VPP引腳)
产品应用
- 高速数据数位元件测试
- 光电模组测试
- 高速信号路由
- ATE设备介面板
- 光电模组测试
- 差分开关矩阵
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