¿Cómo se utilizan los relés Reed en las pruebas de circuitos integrados?

En las pruebas de circuitos integrados (IC), se utilizan relés de lengüeta para conectar y desconectar varios pines y componentes del IC, lo que permite realizar diversas pruebas y mediciones. Por ejemplo, un relé de lengüeta podría usarse para conectar un pin específico del IC a un dispositivo de medición externo, como un sistema de prueba de semiconductores, equipo de prueba automática (ATE), osciloscopio o multímetro, con el fin de medir la función del IC, el rendimiento de RF, voltaje o corriente.
 
Los relés Reed son especialmente útiles en las pruebas de circuitos integrados porque son muy rápidos, tienen una baja resistencia de contacto y se pueden controlar con alta precisión. Además, pueden manejar altas frecuencias y son relativamente inmunes a la interferencia de otras señales en el entorno de prueba.
 
Para utilizar un relé de lámina en pruebas de circuitos integrados, generalmente se conecta a un circuito de control que puede activar y desactivar la bobina interna, haciendo que el interruptor de lámina se cierre o se abra. Este circuito de control puede ser operado manualmente por un ingeniero o automatizado utilizando equipos de prueba especializados.
 
En general, los relés de lámina son una herramienta valiosa en las pruebas de circuitos integrados debido a su fiabilidad, precisión y velocidad, y se utilizan comúnmente en una variedad de aplicaciones en la industria de semiconductores.
 
['Toward'] ha servido a la industria de semiconductores de Taiwán con relés pequeños y confiables durante más de tres décadas. Tenemos la experiencia y el conocimiento para desarrollar continuamente relés mejores y más confiables para asegurar que nuestros clientes puedan probar con éxito los circuitos integrados con funciones cada vez más complicadas.

¿Por qué son útiles los relés de lengüeta en miniatura de múltiples canales en las pruebas de circuitos integrados?

Los relés de caña en miniatura de múltiples canales son particularmente útiles en las pruebas de circuitos integrados (IC) porque permiten realizar múltiples conexiones de manera simultánea y con alta precisión. Los relés de caña para pruebas de IC de ['Toward'] están empaquetados verticalmente para un tamaño de superficie más pequeño y diseñados con múltiples canales de hasta 5 canales en un solo paquete.
 
Aquí hay algunas razones por las que los relés de lengüeta en miniatura de múltiples canales son tan útiles en las pruebas de circuitos integrados:

Tiempo de prueba reducido

• Con múltiples canales, es posible realizar múltiples pruebas simultáneamente, reduciendo el tiempo total de prueba. Esto es especialmente importante en entornos de producción de alto volumen donde el tiempo es un factor crítico.

Ahorro de espacio

• Los relés de caña en miniatura ocupan muy poco espacio, lo que permite empaquetar más canales en un área pequeña. Esto es particularmente importante en los circuitos integrados modernos, que pueden tener cientos o incluso miles de pines en un área muy pequeña.

Control preciso

• Los relés de caña en miniatura son muy precisos, lo que permite un control de alta precisión de la conexión y desconexión de pines específicos en el circuito integrado. Esto es importante para realizar mediciones precisas y para asegurar que se realicen las conexiones correctas durante las pruebas.

Fiabilidad

• Los relés de lámina tienen una larga vida operativa y pueden ser activados millones de veces sin fallos. Esto es particularmente importante en la prueba de circuitos integrados, donde la fiabilidad es crítica para asegurar que el proceso de prueba sea preciso y repetible.

Más generalmente, el uso de relés de lámina miniatura de múltiples canales en la prueba de circuitos integrados puede mejorar significativamente la eficiencia y precisión del proceso de prueba, lo que lleva a una mejor calidad del producto y un tiempo de comercialización más rápido.

Diagrama de la estructura de un relé de caña

Como muestra el dibujo a continuación, dos terminales con un contacto de lengüeta están empaquetados en un tubo de vidrio. Se inyecta gas inerte en el tubo de vidrio para minimizar el desgaste del contacto y aumentar la fiabilidad. Luego, pulverizamos productos químicos como rodio, rutenio e iridio sobre el contacto para mejorar la fiabilidad y la resistencia de contacto estable. El tubo de vidrio con contactos de lengüeta se inserta en una bobina y se empaqueta en un relé de lengüeta.

Las configuraciones de contacto estándar incluyen la Forma A (normalmente abierta cuando no está activada), la Forma B (normalmente cerrada cuando no está activada) y la Forma C (normalmente abierta + normalmente cerrada). Por favor, consulte el enlace en Preguntas Frecuentes Relacionadas para explicaciones sobre las configuraciones de contacto. Con el número creciente de sitios de prueba en tableros de carga y tarjetas de sonda, a menudo se empaquetan dos formas A, cuatro formas A y dos formas C en un solo relé de lámina para satisfacer las necesidades de prueba.

Por ejemplo, ['Toward'] proporciona un relé de caña VN-4A que comprende cuatro canales individuales con los interruptores de caña internos empaquetados verticalmente para conservar el espacio en la PCB, ampliamente aplicado en pruebas de APIC (Circuito Integrado de Procesamiento de Aplicaciones) y PMIC (Circuito Integrado de Gestión de Energía), donde el tamaño y la fiabilidad son características críticas.

Diagrama de circuito de la serie VN-4A

¿Por qué es importante el valor de resistencia en estado activo de los relés Reed en las pruebas de circuitos integrados?

La resistencia de encendido de un relé de láminas es un parámetro importante a considerar en las pruebas de circuitos integrados porque afecta directamente la precisión y exactitud de las mediciones que se están realizando. La resistencia de encendido es la resistencia del interruptor cuando está en la posición cerrada, y puede variar dependiendo del relé específico y su diseño.
 
Los relés Reed de ['Toward'] están desarrollados para tener una resistencia de contacto baja y estable.
 
Aquí hay algunas razones por las que la resistencia en estado activo de un relé Reed es importante en las pruebas de circuitos integrados:

Exactitud

• La resistencia de encendido del relé puede afectar directamente la precisión de la medición que se está realizando. Al medir una señal de voltaje o corriente, por ejemplo, la resistencia de encendido puede agregar un valor de resistencia adicional a la medición, lo que lleva a inexactitudes en los datos. Al utilizar un relé con una baja resistencia de encendido, se puede minimizar el impacto del relé en la medición.

Precisión

• La resistencia en estado de encendido también puede afectar la precisión de la medición. Al tomar mediciones a pequeña escala, incluso pequeños cambios en la resistencia pueden llevar a cambios significativos en los valores de medición. Al utilizar un relé con una baja resistencia en estado de encendido, se puede minimizar el impacto del relé en la medición, lo que lleva a datos más precisos.

Integridad de señal

• La resistencia en estado de conducción también puede afectar la integridad de la señal de la medición. Cuando la resistencia en estado de conducción es alta, puede causar pérdida o distorsión de la señal, particularmente cuando se miden señales de alta frecuencia. Al utilizar un relé con una baja resistencia en estado de conducción, se puede minimizar el impacto en la señal, lo que lleva a mediciones más precisas y exactas.

En general, la resistencia en estado de conducción de un relé de láminas es una consideración importante en las pruebas de circuitos integrados porque puede afectar directamente la precisión, exactitud e integridad de la señal de las mediciones que se están realizando. Al seleccionar el relé de láminas de ['Toward'] que tiene una baja resistencia en estado de conducción, se puede minimizar el impacto del relé en la medición, lo que lleva a resultados de prueba más precisos y confiables.

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