Comment les relais Reed sont-ils utilisés dans les tests de circuits intégrés

Dans les tests de circuits intégrés, des relais à lames sont utilisés pour connecter et déconnecter divers broches et composants du circuit intégré, permettant ainsi d'effectuer divers tests et mesures. Par exemple, un relais à lames peut être utilisé pour connecter une broche spécifique du circuit intégré à un appareil de mesure externe, tel qu'un système de test de semi-conducteurs, un équipement de test automatique (ATE), un oscilloscope ou un multimètre, afin de mesurer la fonction, la performance RF, la tension ou le courant du circuit intégré.
 
Les relais Reed sont particulièrement utiles dans les tests de circuits intégrés car ils sont très rapides, ont une faible résistance de contact et peuvent être contrôlés avec une grande précision. De plus, ils peuvent gérer des hautes fréquences et sont relativement immunisés contre les interférences d'autres signaux dans l'environnement de test.
 
Pour utiliser un relais à lames dans les tests de circuits intégrés, il est généralement connecté à un circuit de contrôle qui peut activer et désactiver la bobine interne, provoquant la fermeture ou l'ouverture de l'interrupteur à lames. Ce circuit de contrôle peut être actionné manuellement par un ingénieur ou automatisé à l'aide d'équipements de test spécialisés.
 
Dans l'ensemble, les relais à lames sont un outil précieux dans les tests de circuits intégrés en raison de leur fiabilité, de leur précision et de leur rapidité, et sont couramment utilisés dans une variété d'applications dans l'industrie des semi-conducteurs.
 
B.T a servi l'industrie des semi-conducteurs de Taïwan avec des relais petits et fiables pendant plus de trois décennies. Nous avons l'expérience et le savoir-faire pour développer continuellement de meilleurs relais plus fiables afin de garantir que nos clients puissent tester avec succès des CI avec des fonctions de plus en plus compliquées.

Pourquoi les relais à lames miniatures multi-canaux sont-ils utiles dans les tests de circuits intégrés ?

Les relais à lames miniatures multi-canaux sont particulièrement utiles dans les tests de circuits intégrés car ils permettent d'effectuer plusieurs connexions simultanément et avec une grande précision. Les relais à lames pour tests de circuits intégrés de B.T sont emballés verticalement pour une taille de surface réduite et conçus avec plusieurs canaux allant jusqu'à 5 canaux dans un seul boîtier.
 
Voici quelques raisons pour lesquelles les relais à lames miniatures multi-canaux sont si utiles dans les tests de circuits intégrés :

Temps de test réduit

• Avec plusieurs canaux, il est possible d'effectuer plusieurs tests simultanément, réduisant ainsi le temps de test global. Cela est particulièrement important dans les environnements de production à volume élevé où le temps est un facteur critique.

Gain de place

• Les relais à lamelles miniatures occupent très peu d'espace, permettant d'intégrer davantage de canaux dans une petite zone. Cela est particulièrement important dans les CI modernes, qui peuvent avoir des centaines, voire des milliers de broches dans une très petite zone.

Contrôle précis

• Les relais à lames miniatures sont très précis, permettant un contrôle de haute précision de la connexion et de la déconnexion de broches spécifiques sur le circuit intégré. Cela est important pour effectuer des mesures précises et pour s'assurer que les bonnes connexions sont établies lors des tests.

Fiabilité

• Les relais à lames ont une longue durée de vie opérationnelle et peuvent être cyclés des millions de fois sans défaillance. Cela est particulièrement important dans les tests de circuits intégrés, où la fiabilité est essentielle pour garantir que le processus de test est précis et répétable.

Plus généralement, l'utilisation de relais à lames miniatures multi-canaux dans les tests de circuits intégrés peut améliorer considérablement l'efficacité et la précision du processus de test, conduisant à une meilleure qualité de produit et à un délai de mise sur le marché plus rapide.

Diagramme de la structure d'un relais à lames

Comme le montre le dessin ci-dessous, deux fils avec un contact à lames sont emballés dans un tube en verre. Un gaz inerte est injecté dans le tube en verre pour minimiser l'usure du contact et augmenter la fiabilité. Nous pulvérisons ensuite des produits chimiques comme le rhodium, le ruthénium et l'iridium sur le contact pour une meilleure fiabilité et une résistance de contact stable. Le tube en verre avec contacts à lames est ensuite inséré dans une bobine et emballé dans un relais à lames.

Les configurations de contact standard incluent la Forme A (normalement ouverte lorsqu'elle n'est pas activée), la Forme B (normalement fermée lorsqu'elle n'est pas activée) et la Forme C (normalement ouverte + normalement fermée). Veuillez consulter le lien dans la FAQ associée pour des explications sur les configurations de contact. Avec l'augmentation du nombre de sites de test sur les tableaux de charge et les cartes de sonde, deux Formes A, quatre Formes A et deux Formes C sont souvent regroupées dans un seul relais à lames pour satisfaire les besoins de test.

Par exemple, B.T fournit un relais à lames VN-4A comprenant quatre canaux individuels avec les interrupteurs à lames internes emballés verticalement pour économiser de l'espace sur le PCB, largement appliqué aux tests APIC (Application Processing IC) et PMIC (Power Management IC), où la taille et la fiabilité sont des caractéristiques critiques.

Schéma de circuit de la série VN-4A

Pourquoi la valeur de la résistance à l'état passant des relais Reed est-elle importante dans les tests de circuits intégrés ?

La résistance à l'état passant d'un relais à lames est un paramètre important à considérer dans les tests de circuits intégrés car elle affecte directement l'exactitude et la précision des mesures effectuées. La résistance à l'état passant est la résistance de l'interrupteur lorsqu'il est en position fermée, et elle peut varier en fonction du relais spécifique et de sa conception.
 
Les relais Reed de B.T sont conçus pour avoir une résistance de contact faible et stable.
 
Voici quelques raisons pour lesquelles la résistance à l'état passant d'un relais Reed est importante dans les tests de circuits intégrés :

Exactitude

• La résistance à l'état passant du relais peut directement affecter la précision de la mesure effectuée. Lors de la mesure d'un signal de tension ou de courant, par exemple, la résistance à l'état passant peut ajouter une valeur de résistance supplémentaire à la mesure, entraînant des inexactitudes dans les données. En utilisant un relais avec une faible résistance à l'état passant, l'impact du relais sur la mesure peut être minimisé.

Précision

• La résistance à l'état passant peut également affecter la précision de la mesure. Lors de la prise de mesures à petite échelle, même de petits changements de résistance peuvent entraîner des variations significatives des valeurs mesurées. En utilisant un relais avec une faible résistance à l'état passant, l'impact du relais sur la mesure peut être minimisé, ce qui conduit à des données plus précises.

Intégrité du signal

• La résistance à l'état passant peut également affecter l'intégrité du signal de la mesure. Lorsque la résistance à l'état passant est élevée, elle peut provoquer une perte ou une distorsion du signal, en particulier lors de la mesure de signaux à haute fréquence. En utilisant un relais avec une faible résistance à l'état passant, l'impact sur le signal peut être minimisé, ce qui conduit à des mesures plus précises et exactes.

Dans l'ensemble, la résistance à l'état passant d'un relais à lames est une considération importante dans les tests de circuits intégrés car elle peut directement affecter l'exactitude, la précision et l'intégrité du signal des mesures effectuées. En choisissant le relais à lames de B.T qui a une faible résistance à l'état passant, l'impact du relais sur la mesure peut être minimisé, ce qui conduit à des résultats de test plus précis et fiables.

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