Comment les relais Reed sont-ils utilisés dans les tests de circuits intégrés

Dans les tests IC, des relais Reed sont utilisés pour connecter et déconnecter diverses broches et composants de l'IC, permettant ainsi d'effectuer divers tests et mesures. Par exemple, un relais Reed peut être utilisé pour connecter une broche spécifique de l'IC à un dispositif de mesure externe, tel qu'un système de test de semi-conducteurs, un équipement de test automatique (ATE), un oscilloscope ou un multimètre, afin de mesurer la fonction de l'IC, ses performances RF, sa tension ou son courant.
 
Les relais Reed sont particulièrement utiles dans les tests de CI car ils sont très rapides, ont une faible résistance de contact et peuvent être contrôlés avec une grande précision. De plus, ils peuvent gérer des fréquences élevées et sont relativement immunisés contre les interférences d'autres signaux dans l'environnement de test.
 
Pour utiliser un relais à lames dans les tests de CI, il est généralement connecté à un circuit de commande qui peut activer et désactiver la bobine interne, ce qui ferme ou ouvre le commutateur à lames. Ce circuit de commande peut être actionné manuellement par un ingénieur ou automatisé à l'aide d'un équipement de test spécialisé.
 
Dans l'ensemble, les relais Reed sont un outil précieux dans les tests de CI en raison de leur fiabilité, de leur précision et de leur rapidité, et sont couramment utilisés dans diverses applications de l'industrie des semi-conducteurs.
 
Bright Toward a servi l'industrie des semi-conducteurs de Taiwan avec des relais petits et fiables depuis plus de trois décennies. Nous avons l'expérience et le savoir-faire pour développer en continu des relais meilleurs et plus fiables afin de garantir à nos clients de pouvoir tester avec succès des circuits intégrés dotés de fonctions de plus en plus complexes.

Pourquoi les relais à lames miniatures multi-canaux sont-ils utiles dans les tests de CI ?

Les relais à lames miniatures multi-canaux sont particulièrement utiles dans les tests de circuits intégrés car ils permettent de réaliser plusieurs connexions simultanément et avec une grande précision. Pour les tests de CI, les relais à lames sont conditionnés verticalement pour une taille de surface plus petite et conçus avec plusieurs canaux, jusqu'à 5 canaux dans un seul boîtier.
 
Voici quelques raisons pour lesquelles les relais à lames miniatures multi-canaux sont si utiles dans les tests de CI :

Réduction du temps de test

• Avec plusieurs canaux, il est possible d'effectuer plusieurs tests simultanément, réduisant ainsi le temps total de test. Cela est particulièrement important dans les environnements de production à haut volume où le temps est un facteur critique.

Gain d'espace

• Les relais à lamelles miniatures occupent très peu d'espace, permettant d'emballer davantage de canaux dans une petite zone. Cela est particulièrement important dans les circuits intégrés modernes, qui peuvent avoir des centaines, voire des milliers de broches dans une très petite zone.

Contrôle précis

• Les relais à lames miniatures sont très précis, permettant un contrôle de haute précision de la connexion et de la déconnexion de broches spécifiques sur le CI. Cela est important pour effectuer des mesures précises et garantir que les bonnes connexions sont établies lors des tests.

Fiabilité

• Les relais à lames ont une longue durée de vie opérationnelle et peuvent être actionnés des millions de fois sans défaillance. Cela est particulièrement important dans les tests de CI, où la fiabilité est essentielle pour garantir que le processus de test est précis et reproductible.

Plus généralement, l'utilisation de relais à lames miniatures à canaux multiples dans les tests de CI peut améliorer considérablement l'efficacité et la précision du processus de test, ce qui conduit à une meilleure qualité de produit et à un temps de mise sur le marché plus rapide.

Schéma de la structure d'un relais Reed

Comme le montre le dessin ci-dessous, deux fils avec un contact à lames sont emballés dans un tube en verre. Un gaz inerte est injecté dans le tube en verre pour réduire l'usure du contact et augmenter la fiabilité. Ensuite, nous pulvérisons des produits chimiques tels que le rhodium, le ruthénium et l'iridium sur le contact pour une meilleure fiabilité et une résistance de contact stable. Le tube en verre avec les contacts à lames est ensuite inséré dans une bobine et emballé dans un relais à lames.

Les configurations de contact standard comprennent la Forme A (normalement ouverte lorsqu'elle n'est pas activée), la Forme B (normalement fermée lorsqu'elle n'est pas activée) et la Forme C (normalement ouverte + normalement fermée). Veuillez consulter le lien dans la FAQ connexe pour des explications sur les configurations de contact. Avec le nombre croissant de sites de test sur les cartes de charge et les cartes de sonde, deux Forme A, quatre Forme A et deux Forme C sont souvent regroupées dans un seul relais à lames pour répondre aux besoins de test.

Par exemple, Bright Toward fournit un relais à lames VN-4A comprenant quatre canaux individuels avec des interrupteurs à lames internes emballés verticalement pour économiser de l'espace sur le circuit imprimé, largement utilisé pour les tests APIC (Application Processing IC) et PMIC (Power Management IC), où la taille, la fiabilité et les caractéristiques critiques sont essentielles.

Schéma de circuit de la série VN-4A

Pourquoi la valeur de résistance à l'état passant des relais Reed est-elle importante dans les tests de CI ?

La résistance à l'état passant d'un relais Reed est un paramètre important à prendre en compte dans les tests de CI car elle affecte directement la précision et la précision des mesures effectuées. La résistance à l'état passant est la résistance de l'interrupteur lorsqu'il est en position fermée, et elle peut varier en fonction du relais spécifique et de sa conception.
 
Les relais Reed de Toward sont conçus pour avoir une résistance de contact faible et stable.
 
Voici quelques raisons pour lesquelles la résistance à l'état passant d'un relais Reed est importante dans les tests de CI :

Précision

• La résistance à l'état passant du relais peut directement affecter la précision de la mesure en cours. Lors de la mesure d'un signal de tension ou de courant, par exemple, la résistance à l'état passant peut ajouter une valeur de résistance supplémentaire à la mesure, entraînant des inexactitudes dans les données. En utilisant un relais avec une faible résistance à l'état passant, l'impact du relais sur la mesure peut être minimisé.

Précision

• La résistance à l'état passant peut également affecter la précision de la mesure. Lors de la prise de mesures à petite échelle, même de petits changements de résistance peuvent entraîner des variations significatives des valeurs mesurées. En utilisant un relais avec une faible résistance à l'état passant, l'impact du relais sur la mesure peut être minimisé, ce qui permet d'obtenir des données plus précises.

Intégrité du signal

• La résistance à l'état passant peut également avoir un impact sur l'intégrité du signal de mesure. Lorsque la résistance à l'état passant est élevée, elle peut entraîner une perte ou une distorsion du signal, en particulier lors de la mesure de signaux haute fréquence. En utilisant un relais avec une faible résistance à l'état passant, l'impact sur le signal peut être minimisé, ce qui permet d'obtenir des mesures plus précises et plus précises.

Dans l'ensemble, la résistance à l'état passant d'un relais Reed est un élément important à prendre en compte dans les tests de CI car elle peut avoir un impact direct sur l'exactitude, la précision et l'intégrité du signal des mesures effectuées. En choisissant le relais Reed de Toward qui a une faible résistance à l'état passant, l'impact du relais sur la mesure peut être minimisé, ce qui conduit à des résultats de test plus précis et fiables.

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