リードリレーはICテストでどのように使用されますか

ICテストでは、リードリレーがICのさまざまなピンやコンポーネントを接続および切断するために使用され、さまざまなテストや測定が行えるようになります。たとえば、リードリレーはICの特定のピンを外部測定装置（半導体テストシステム、オートメーションテスト装置（ATE）、オシロスコープ、またはマルチメーターなど）に接続して、ICの機能、RF性能、電圧、または電流を測定するために使用されることがあります。
 
リードリレーは、非常に高速で接触抵抗が低く、高精度で制御できるため、ICテストに特に便利です。さらに、高周波を扱うことができ、テスト環境内の他の信号からの干渉に対して比較的耐性があります。
 
ICテストでリードリレーを使用するには、通常、内部コイルをアクティブおよび非アクティブにすることができる制御回路に接続され、リードスイッチが閉じたり開いたりします。この制御回路は、エンジニアによって手動で操作されるか、専門のテスト機器を使用して自動化されることがあります。
 
全体として、リードリレーはその信頼性、精度、速度からICテストにおいて貴重なツールであり、半導体産業のさまざまなアプリケーションで一般的に使用されています。
 
Bright Towardは、30年以上にわたり台湾の半導体産業に小型で信頼性の高いリレーを提供してきました。私たちは、より良く、より信頼性の高いリレーを継続的に開発するための経験とノウハウを持っており、顧客がますます複雑な機能を持つICを成功裏にテストできるようにしています。

なぜマルチチャネルミニチュアリードリレーはICテストに役立つのか?

マルチチャネルミニチュアリードリレーは、同時に高精度で複数の接続を行うことができるため、ICテストに特に便利です。Bright TowardのICテスト用リードリレーは、より小さな表面サイズのために垂直にパッケージされており、1つのパッケージで最大5チャネルのマルチチャネル設計になっています。
 
ICテストにおいてマルチチャネルミニチュアリードリレーが非常に便利な理由はいくつかあります:

テスト時間の短縮

• 複数のチャネルを使用することで、複数のテストを同時に実行でき、全体のテスト時間を短縮できます。これは、時間が重要な要素である大量生産環境では特に重要です。

省スペース

• ミニチュアリードリレーは非常に小さなスペースを占めるため、狭いエリアにより多くのチャネルを詰め込むことができます。これは、非常に小さなエリアに数百または数千のピンを持つことができる現代のICにおいて特に重要です。

精密制御

• ミニチュアリードリレーは非常に精密で、ICの特定のピンの接続と切断を高精度で制御することができます。これは、正確な測定を行うためや、テスト中に正しい接続が行われることを保証するために重要です。

信頼性

• リードリレーは長寿命で、故障することなく何百万回もサイクルできます。これは、ICテストにおいて信頼性が重要であり、テストプロセスが正確で再現可能であることを保証するために特に重要です。

一般的に、ICテストにおける多チャンネルミニチュアリードリレーの使用は、テストプロセスの効率と精度を大幅に向上させ、製品の品質向上と市場投入までの時間短縮につながります。

リードリレーの構造の図

以下の図が示すように、リード接点を持つ2つのリードがガラスチューブにパッケージされています。接触摩耗を最小限に抑え、信頼性を高めるために、ガラスチューブに不活性ガスが注入されます。その後、接点の信頼性と安定した接触抵抗を向上させるために、ロジウム、ルテニウム、イリジウムなどの化学物質をスパッタリングします。リード接点を持つガラスチューブはコイルに挿入され、リードリレーにパッケージされます。

標準的な接点構成には、フォームA（駆動されていないときは通常オープン）、フォームB（駆動されていないときは通常クローズ）、およびフォームC（通常オープン + 通常クローズ）が含まれます。接点構成の説明については、関連FAQのリンクをご覧ください。ロードボードやプローブカードのテストサイトの数が増える中、通常、2つのフォームA、4つのフォームA、および2つのフォームCが1つのリードリレーにパッケージ化され、テストニーズを満たしています。

例えば、Bright Towardは、PCBのスペースを節約するために垂直にパッケージ化された内部リードスイッチを備えた4つの個別チャネルからなるVN-4Aリードリレーを提供し、サイズと信頼性が重要な特性であるAPIC（アプリケーション処理IC）およびPMIC（電源管理IC）テストに広く適用されています。

VN-4Aシリーズの回路図

リードリレーのオン抵抗値がICテストで重要な理由は何ですか？

リードリレーのオン抵抗は、ICテストにおいて重要なパラメータであり、測定の精度と正確性に直接影響を与えるため、考慮する必要があります。オン抵抗は、スイッチが閉じた状態のときの抵抗であり、特定のリレーやその設計によって異なる場合があります。
 
Bright Towardのリードリレーは、低く安定した接触抵抗を持つように開発されています。
 
リードリレーのオン抵抗がICテストで重要な理由はいくつかあります。

正確性

• リレーのオン抵抗は、測定の精度に直接影響を与える可能性があります。たとえば、電圧や電流信号を測定する際、オン抵抗は測定に追加の抵抗値を加えることになり、データの不正確さを引き起こす可能性があります。低オン抵抗のリレーを使用することで、測定に対するリレーの影響を最小限に抑えることができます。

精度

• オン抵抗は測定の精度にも影響を与える可能性があります。小さなスケールで測定を行う際には、抵抗のわずかな変化でも測定値に大きな変化をもたらすことがあります。低オン抵抗のリレーを使用することで、リレーが測定に与える影響を最小限に抑え、より正確なデータを得ることができます。

信号の整合性

• オン抵抗は、測定の信号の整合性にも影響を与える可能性があります。オン抵抗が高いと、特に高周波信号を測定しているときに、信号の損失や歪みを引き起こす可能性があります。低オン抵抗のリレーを使用することで、信号への影響を最小限に抑え、より正確で精密な測定が可能になります。

全体として、リードリレーのオン抵抗はICテストにおいて重要な考慮事項です。なぜなら、それが測定の精度、正確性、信号の完全性に直接影響を与える可能性があるからです。オン抵抗が低いBright Towardのリードリレーを選択することで、リレーが測定に与える影響を最小限に抑え、より正確で信頼性の高いテスト結果を得ることができます。

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