रीड रिले की भूमिका आईसी परीक्षण में

रीड रिले सेमीकंडक्टर परीक्षण में उच्च विश्वसनीयता और सटीकता के कारण एक महत्वपूर्ण भूमिका निभाते हैं। इनमें दो धातु की रीड होती हैं जो एक कांच की ट्यूब में सील की जाती हैं और स्विच संपर्कों के रूप में कार्य करती हैं, जिन्हें वोल्टेज द्वारा नियंत्रित किया जाता है जो आंतरिक कॉइल को चलाता है ताकि चुंबकीय बल उत्पन्न हो सके।

रयान हसू द्वारा लिखा गया

IC परीक्षण में रीड रिले का उपयोग कैसे किया जाता है

आईसी परीक्षण में, रीड रिले का उपयोग आईसी के विभिन्न पिनों और घटकों को जोड़ने और काटने के लिए किया जाता है, जिससे विभिन्न परीक्षण और माप किए जा सकते हैं। उदाहरण के लिए, एक रीड रिले का उपयोग आईसी के एक विशेष पिन को एक बाहरी मापने वाले उपकरण, जैसे कि सेमीकंडक्टर परीक्षण प्रणाली, स्वचालित परीक्षण उपकरण (एटीई), ऑस्सीलेस्कोप या मल्टीमीटर से जोड़ने के लिए किया जा सकता है, ताकि आईसी के कार्य, आरएफ प्रदर्शन, वोल्टेज या करंट को मापा जा सके।

रीड रिले विशेष रूप से आईसी परीक्षण में उपयोगी होते हैं क्योंकि वे बहुत तेज होते हैं, उनका संपर्क प्रतिरोध कम होता है, और उन्हें उच्च सटीकता के साथ नियंत्रित किया जा सकता है। इसके अतिरिक्त, वे उच्च आवृत्तियों को संभाल सकते हैं और परीक्षण वातावरण में अन्य संकेतों से होने वाले हस्तक्षेप के प्रति अपेक्षाकृत प्रतिरोधी होते हैं।

IC परीक्षण में रीड रिले का उपयोग करने के लिए, इसे आमतौर पर एक नियंत्रण सर्किट से जोड़ा जाता है जो आंतरिक कॉइल को सक्रिय और निष्क्रिय कर सकता है, जिससे रीड स्विच बंद या खुल जाता है। यह नियंत्रण सर्किट एक इंजीनियर द्वारा मैन्युअल रूप से संचालित किया जा सकता है या विशेष परीक्षण उपकरणों का उपयोग करके स्वचालित किया जा सकता है।

कुल मिलाकर, रीड रिले आईसी परीक्षण में उनकी विश्वसनीयता, सटीकता और गति के कारण एक मूल्यवान उपकरण हैं, और सेमीकंडक्टर उद्योग में विभिन्न अनुप्रयोगों में सामान्यतः उपयोग किए जाते हैं।

B.T ने ताइवान के सेमीकंडक्टर उद्योग को तीन दशकों से छोटे और विश्वसनीय रिले प्रदान किए हैं। हमारे पास बेहतर और अधिक विश्वसनीय रिले विकसित करने का अनुभव और ज्ञान है ताकि हम यह सुनिश्चित कर सकें कि हमारे ग्राहक जटिल कार्यों के साथ ICs का सफलतापूर्वक परीक्षण कर सकें।

मल्टी-चैनल लघु रीड रिले आईसी परीक्षण में क्यों उपयोगी हैं?

मल्टी-चैनल लघु रीड रिले IC परीक्षण में विशेष रूप से उपयोगी होते हैं क्योंकि वे एक साथ कई कनेक्शन बनाने की अनुमति देते हैं और उच्च सटीकता के साथ। B.T के IC परीक्षण रीड रिले छोटे सतह आकार के लिए लंबवत पैक किए गए हैं और एक ही पैकेज में 5 चैनल तक के मल्टी-चैनल के साथ डिज़ाइन किए गए हैं।

यहाँ कुछ कारण हैं कि क्यों मल्टी-चैनल लघु रीड रिले आईसी परीक्षण में इतने उपयोगी हैं:

कम परीक्षण समय

एकाधिक चैनलों के साथ, एक साथ कई परीक्षण करना संभव है, जिससे कुल परीक्षण समय कम होता है। यह उच्च मात्रा के उत्पादन वातावरण में विशेष रूप से महत्वपूर्ण है जहां समय एक महत्वपूर्ण कारक है।

स्थान-बचत

सूक्ष्म रीड रिले बहुत कम स्थान लेते हैं, जिससे एक छोटे क्षेत्र में अधिक चैनल पैक करना संभव होता है। यह आधुनिक आईसी में विशेष रूप से महत्वपूर्ण है, जिनमें बहुत छोटे क्षेत्र में सैकड़ों या यहां तक कि हजारों पिन हो सकते हैं।

सटीक नियंत्रण

सूक्ष्म रीड रिले बहुत सटीक होते हैं, जो आईसी पर विशिष्ट पिनों के कनेक्शन और डिस्कनेक्शन के उच्च-सटीक नियंत्रण की अनुमति देते हैं। यह सटीक माप लेने और परीक्षण के दौरान सही कनेक्शन सुनिश्चित करने के लिए महत्वपूर्ण है।

विश्वसनीयता

रीड रिले की कार्यशीलता का जीवन लंबा होता है और इसे बिना विफलता के लाखों बार चक्रित किया जा सकता है। यह IC परीक्षण में विशेष रूप से महत्वपूर्ण है, जहां विश्वसनीयता यह सुनिश्चित करने के लिए महत्वपूर्ण है कि परीक्षण प्रक्रिया सटीक और पुनरावृत्तीय हो।

अधिक सामान्य रूप से, IC परीक्षण में मल्टी-चैनल लघु रीड रिले का उपयोग परीक्षण प्रक्रिया की दक्षता और सटीकता को महत्वपूर्ण रूप से सुधार सकता है, जिससे उत्पाद की गुणवत्ता में सुधार और बाजार में तेजी से समय मिल सकता है।

रीड रिले की संरचना का आरेख

जैसा कि नीचे दिए गए चित्र में दिखाया गया है, एक रीड संपर्क के साथ दो लीड को एक कांच की ट्यूब में पैक किया गया है। संपर्क पहनने को कम करने और विश्वसनीयता बढ़ाने के लिए कांच की ट्यूब में निष्क्रिय गैस डाली जाती है। फिर हम बेहतर विश्वसनीयता और स्थिर संपर्क प्रतिरोध के लिए संपर्क पर रोडियम, रूथेनियम और इरिडियम जैसे रसायनों को स्पटर करते हैं। रीड संपर्कों के साथ कांच की ट्यूब को फिर एक कॉइल में डाला जाता है और एक रीड रिले में पैक किया जाता है।

मानक संपर्क कॉन्फ़िगरेशन में फॉर्म ए (जब संचालित नहीं होता है तो सामान्यतः खुला), फॉर्म बी (जब संचालित नहीं होता है तो सामान्यतः बंद), और फॉर्म सी (सामान्यतः खुला + सामान्यतः बंद) शामिल हैं। संपर्क कॉन्फ़िगरेशन स्पष्टीकरण के लिए संबंधित FAQ में लिंक देखें। लोड बोर्ड और प्रोब कार्ड पर परीक्षण स्थलों की बढ़ती संख्या के साथ, अक्सर एकल रीड रिले में दो फॉर्म ए, चार फॉर्म ए, और दो फॉर्म सी को पैक किया जाता है ताकि परीक्षण आवश्यकताओं को पूरा किया जा सके।

उदाहरण के लिए, B.T एक VN-4A रीड रिले प्रदान करता है जिसमें चार व्यक्तिगत चैनल होते हैं, जिनमें आंतरिक रीड स्विच को PCB स्थान को बचाने के लिए लंबवत पैक किया गया है, जो APIC (एप्लिकेशन प्रोसेसिंग IC) और PMIC (पावर प्रबंधन IC) परीक्षण में व्यापक रूप से लागू होता है, जहां आकार और विश्वसनीयता महत्वपूर्ण विशेषताएँ हैं।

VN-4A श्रृंखला का सर्किट आरेख

रीड रिले का ऑन-प्रतिरोध मान IC परीक्षण में क्यों महत्वपूर्ण है?

रीड रिले का ऑन-प्रतिरोध एक महत्वपूर्ण पैरामीटर है जिसे आईसी परीक्षण में ध्यान में रखना चाहिए क्योंकि यह सीधे मापों की सटीकता और सटीकता को प्रभावित करता है। ऑन-प्रतिरोध वह प्रतिरोध है जब स्विच बंद स्थिति में होता है, और यह विशिष्ट रिले और इसके डिज़ाइन के आधार पर भिन्न हो सकता है।

B.T के रीड रिले को कम और स्थिर संपर्क प्रतिरोध रखने के लिए विकसित किया गया है।

यहाँ कुछ कारण दिए गए हैं कि क्यों रीड रिले का ऑन-प्रतिरोध IC परीक्षण में महत्वपूर्ण है:

सटीकता

रिले का ऑन-प्रतिरोध सीधे मापी जा रही माप की सटीकता को प्रभावित कर सकता है। उदाहरण के लिए, जब वोल्टेज या करंट सिग्नल को मापा जा रहा है, तो ऑन-प्रतिरोध माप में एक अतिरिक्त प्रतिरोध मान जोड़ सकता है, जिससे डेटा में असत्यताएँ उत्पन्न होती हैं। कम ऑन-प्रतिरोध वाले रिले का उपयोग करके, माप पर रिले के प्रभाव को न्यूनतम किया जा सकता है।

सटीकता

ऑन-प्रतिरोध माप की सटीकता को भी प्रभावित कर सकता है। जब छोटे पैमाने पर माप लेते हैं, तो प्रतिरोध में छोटे बदलाव भी माप के मानों में महत्वपूर्ण बदलाव ला सकते हैं। कम ऑन-प्रतिरोध वाले रिले का उपयोग करके, माप पर रिले के प्रभाव को न्यूनतम किया जा सकता है, जिससे अधिक सटीक डेटा प्राप्त होता है।

सिग्नल इंटीग्रिटी

ऑन-प्रतिरोध माप की सिग्नल अखंडता को भी प्रभावित कर सकता है। जब ऑन-प्रतिरोध उच्च होता है, तो यह सिग्नल हानि या विरूपण का कारण बन सकता है, विशेष रूप से जब उच्च आवृत्ति के सिग्नल मापे जा रहे होते हैं। कम ऑन-प्रतिरोध वाले रिले का उपयोग करके, सिग्नल पर प्रभाव को न्यूनतम किया जा सकता है, जिससे अधिक सटीक और सटीक माप प्राप्त होते हैं।

कुल मिलाकर, एक रीड रिले का ऑन-प्रतिरोध IC परीक्षण में एक महत्वपूर्ण विचार है क्योंकि यह सीधे मापों की सटीकता, प्रिसिजन और सिग्नल इंटीग्रिटी को प्रभावित कर सकता है। B.T के रीड रिले का चयन करके जिसमें कम ऑन-प्रतिरोध है, माप पर रिले के प्रभाव को न्यूनतम किया जा सकता है, जिससे अधिक सटीक और विश्वसनीय परीक्षण परिणाम मिलते हैं।