IC 테스트에서 리드 릴레이는 어떻게 사용됩니까?

IC 테스트에서 리드 릴레이는 IC의 다양한 핀과 구성 요소를 연결하고 분리하는 데 사용되어 다양한 테스트와 측정을 수행할 수 있게 합니다. 예를 들어, 리드 릴레이는 IC의 특정 핀을 반도체 테스트 시스템, 자동 테스트 장비(ATE), 오실로스코프 또는 멀티미터와 같은 외부 측정 장치에 연결하여 IC의 기능, RF 성능, 전압 또는 전류를 측정하는 데 사용될 수 있습니다.
 
리드 릴레이는 매우 빠르고 접촉 저항이 낮으며 고정밀로 제어할 수 있기 때문에 IC 테스트에서 특히 유용합니다. 또한, 고주파를 처리할 수 있으며 테스트 환경의 다른 신호로부터의 간섭에 상대적으로 면역입니다.
 
IC 테스트에서 리드 릴레이를 사용하려면 일반적으로 내부 코일을 활성화하고 비활성화할 수 있는 제어 회로에 연결되어 리드 스위치를 닫거나 열게 됩니다. 이 제어 회로는 엔지니어가 수동으로 조작하거나 특수 테스트 장비를 사용하여 자동화할 수 있습니다.
 
전반적으로 리드 릴레이는 신뢰성, 정밀성 및 속도 덕분에 IC 테스트에서 귀중한 도구이며 반도체 산업의 다양한 응용 분야에서 일반적으로 사용됩니다.
 
B.T는 30년 이상 대만의 반도체 산업에 작고 신뢰할 수 있는 릴레이를 제공해왔습니다. 우리는 고객이 점점 더 복잡한 기능을 가진 IC를 성공적으로 테스트할 수 있도록 더 나은 신뢰성 있는 릴레이를 지속적으로 개발할 수 있는 경험과 노하우를 가지고 있습니다.

다채널 미니어처 릴레이가 IC 테스트에서 유용한 이유는 무엇인가요?

다채널 미니어처 리드 릴레이는 IC 테스트에서 특히 유용합니다. 왜냐하면 여러 연결을 동시에 고정밀로 수행할 수 있기 때문입니다. B.T의 IC 테스트 리드 릴레이는 더 작은 표면 크기를 위해 수직으로 포장되어 있으며, 단일 패키지에서 최대 5채널까지 다채널로 설계되었습니다.
 
다음은 IC 테스트에서 다채널 미니어처 릴레이가 매우 유용한 몇 가지 이유입니다:

테스트 시간 단축

• 여러 채널을 사용하면 동시에 여러 테스트를 수행할 수 있어 전체 테스트 시간을 줄일 수 있습니다. 이는 시간이 중요한 요소인 대량 생산 환경에서 특히 중요합니다.

공간 절약

• 미니어처 리드 릴레이는 매우 적은 공간을 차지하여 작은 영역에 더 많은 채널을 배치할 수 있습니다. 이는 현대 IC에서 특히 중요하며, 현대 IC는 매우 작은 영역에 수백 개 또는 수천 개의 핀을 가질 수 있습니다.

정밀 제어

• 미니어처 리드 릴레이는 매우 정밀하여 IC의 특정 핀의 연결 및 분리를 고정밀로 제어할 수 있습니다. 이는 정확한 측정을 수행하고 테스트 중에 올바른 연결이 이루어지도록 보장하는 데 중요합니다.

신뢰성

• 리드 릴레이는 작동 수명이 길며 고장 없이 수백만 번의 사이클을 수행할 수 있습니다. 이는 테스트 프로세스의 정확성과 반복성을 보장하는 데 있어 신뢰성이 중요한 IC 테스트에서 특히 중요합니다.

일반적으로 IC 테스트에서 멀티 채널 소형 리드 릴레이를 사용하면 테스트 프로세스의 효율성과 정확성을 크게 향상시켜 제품 품질을 개선하고 출시 기간을 단축할 수 있습니다.

릴레이의 구조 다이어그램

아래 그림에서 보여주듯이, 리드 접점이 있는 두 개의 리드가 유리 튜브에 포장되어 있습니다. 접촉 마모를 최소화하고 신뢰성을 높이기 위해 비활성 가스가 유리 튜브에 주입됩니다. 그런 다음, 더 나은 신뢰성과 안정적인 접촉 저항을 위해 로듐, 루테늄, 이리듐과 같은 화학 물질을 접점에 스퍼터링합니다. 리드 접점이 있는 유리 튜브는 코일에 삽입되어 리드 릴레이로 포장됩니다.

표준 접점 구성에는 폼 A(구동되지 않을 때 일반적으로 열림), 폼 B(구동되지 않을 때 일반적으로 닫힘), 폼 C(일반적으로 열림 + 일반적으로 닫힘)가 포함됩니다. 접점 구성 설명은 관련 FAQ의 링크를 참조하십시오. 로드 보드와 프로브 카드의 테스트 사이트 수가 증가함에 따라, 두 개의 폼 A, 네 개의 폼 A, 두 개의 폼 C가 종종 단일 리드 릴레이에 패키징되어 테스트 요구를 충족합니다.

예를 들어, B.T는 PCB 공간을 절약하기 위해 수직으로 패키징된 내부 리드 스위치를 갖춘 네 개의 개별 채널로 구성된 VN-4A 리드 릴레이를 제공합니다. 이는 크기와 신뢰성이 중요한 특성인 APIC(응용 처리 IC) 및 PMIC(전원 관리 IC) 테스트에 널리 적용됩니다.

VN-4A 시리즈 회로도

리드 릴레이의 온 저항 값이 IC 테스트에서 중요한 이유는 무엇인가요?

리드 릴레이의 온 저항은 IC 테스트에서 고려해야 할 중요한 매개변수입니다. 이는 측정의 정확도와 정밀도에 직접적인 영향을 미치기 때문입니다. 온 저항은 스위치가 닫힌 상태일 때의 저항이며, 특정 릴레이와 그 설계에 따라 달라질 수 있습니다.
 
B.T의 리드 릴레이는 낮고 안정적인 접촉 저항을 갖도록 개발되었습니다.
 
리드 릴레이의 온 저항이 IC 테스트에서 중요한 몇 가지 이유는 다음과 같습니다:

정확성

• 릴레이의 온 저항은 측정의 정확도에 직접적인 영향을 미칠 수 있습니다. 예를 들어 전압이나 전류 신호를 측정할 때, 온 저항은 측정에 추가적인 저항 값을 더해 데이터의 부정확성을 초래할 수 있습니다. 낮은 온 저항을 가진 릴레이를 사용함으로써 릴레이가 측정에 미치는 영향을 최소화할 수 있습니다.

정밀도

• 온 저항은 측정의 정밀도에도 영향을 미칠 수 있습니다. 소규모에서 측정을 할 때, 저항의 작은 변화도 측정 값에 상당한 변화를 초래할 수 있습니다. 낮은 온 저항을 가진 릴레이를 사용함으로써 릴레이가 측정에 미치는 영향을 최소화할 수 있어, 더 정밀한 데이터를 얻을 수 있습니다.

신호 무결성

• 온 저항은 측정의 신호 무결성에도 영향을 미칠 수 있습니다. 온 저항이 높으면 신호 손실이나 왜곡이 발생할 수 있으며, 특히 고주파 신호를 측정할 때 그러합니다. 낮은 온 저항을 가진 릴레이를 사용함으로써 신호에 미치는 영향을 최소화할 수 있어, 보다 정확하고 정밀한 측정이 가능합니다.

전반적으로, 리드 릴레이의 온 저항은 IC 테스트에서 중요한 고려 사항입니다. 이는 측정의 정확성, 정밀성 및 신호 무결성에 직접적인 영향을 미칠 수 있기 때문입니다. B.T의 낮은 온 저항을 가진 리드 릴레이를 선택함으로써, 측정에 대한 릴레이의 영향을 최소화할 수 있어 보다 정확하고 신뢰할 수 있는 테스트 결과를 얻을 수 있습니다.

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