高速I/O Loopback寬頻錐形電感模組
ALC-60932
Aeries Series
ALC-60932是由拓緯自行研發與生產的高速I/O Loopback寬頻錐形電感模組。產品在單一模壓封裝內整合4顆寬頻電感與2顆AC耦合電容，專為85 Ω及100 Ω差分訊號路徑而設計，適用於PCIe、SerDes及次世代高速I/O驗證。
ALC-60932提供最高64 Gbps NRZ的眼圖驗證效能，並以128 Gbps PAM4作為應用目標。4.00*4.25*1.90 mm的微型SMT封裝可配置於更靠近待測元件（DUT）的位置，協助縮短信號路徑並簡化Loopback電路設計。
模組內每顆寬頻電感具備220 nH電感值、230 mA最大直流電流及0.6 ± 0.2 Ω的低直流電阻，元件級寬頻應用範圍最高可達40 GHz。內建AC耦合電容的標準規格為220 nF、6.3 V，亦可依客戶需求調整電容量。
產品特性
- 拓緯自行研發與生產
- 單一封裝整合4顆寬頻電感與2顆AC耦合電容
- 最高64 Gbps NRZ眼圖驗證效能
- 128 Gbps PAM4應用目標
- 適用於85 Ω及100 Ω差分訊號路徑
- 電感元件級寬頻應用範圍最高達40 GHz
- 電感路徑截止頻率低於80 MHz
- 低直流電阻：0.6 ± 0.2 Ω
- AC耦合電容量可依客戶需求調整
- SMT表面黏著型高可靠度模壓封裝
- 微型尺寸：4.00*4.25*1.90 mm
通電電流 (A)
- 0.23
頻率
- Up to 40 GHz
電感路徑截止頻率
- Below 80 MHz
AC耦合電容
- 220 nF, ±10%
電容額定電壓
- 6.3
插入損耗 [Super-Port Mode]
- 0.6 ± 0.2 Ω
產品應用
- PCIe高速I/O Loopback
- PCIe訊號驗證
- SerDes測試與驗證
- 高速I/O驗證
- 差分訊號路徑
- ATE自動測試設備
- 高速元件與DUT介面設計
- 次世代高速互連測試
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