高速I/O Loopback宽频锥形电感模组
ALC-60932
Aeries Series
ALC-60932是由拓緯自行研发与生产的高速I/O Loopback宽频锥形电感模组。产品在单一模压封装内整合4颗宽频电感与2颗AC耦合电容，专为85 Ω及100 Ω差分讯号路径而设计，适用于PCIe、SerDes及次世代高速I/O验证。
ALC-60932提供最高64 Gbps NRZ的眼图验证效能，并以128 Gbps PAM4作为应用目标。 4.00*4.25*1.90 mm的微型SMT封装可配置于更靠近待测元件（DUT）的位置，协助缩短信号路径并简化Loopback电路设计。
模组内每颗宽频电感具备220 nH电感值、230 mA最大直流电流及0.6 ± 0.2 Ω的低直流电阻，元件级宽频应用范围最高可达40 GHz。内建AC耦合电容的标准规格为220 nF、6.3 V，亦可依客户需求调整电容量。
产品特性
- 拓緯自行研发与生产
- 单一封装整合4颗宽频电感与2颗AC耦合电容
- 最高64 Gbps NRZ眼图验证效能
- 128 Gbps PAM4应用目标
- 适用于85 Ω及100 Ω差分讯号路径
- 电感元件级宽频应用范围最高达40 GHz
- 电感路径截止频率低于80 MHz
- 低直流电阻：0.6 ± 0.2 Ω
- AC耦合电容量可依客户需求调整
- SMT表面黏着型高可靠度模压封装
- 微型尺寸：4.00*4.25*1.90 mm
通电电流(A)
- 0.23
频率
- Up to 40 GHz
电感路径截止频率
- Below 80 MHz
AC耦合电容
- 220 nF, ±10%
电容额定电压
- 6.3
插入损耗[Super-Port Mode]
- 0.6 ± 0.2 Ω
产品应用
- PCIe高速I/O Loopback
- PCIe讯号验证
- SerDes测试与验证
- 高速I/O验证
- 差分讯号路径
- ATE自动测试设备
- 高速元件与DUT介面设计
- 次世代高速互连测试
- 文件下载
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