SWTEST 2026

[展覽] 攤位 302 | 拓緯將於 SWTest 2026 展出高效能半導體測試切換解決方案

拓緯(Toward Technologies)將於2026年6月8日至10日參加位於美國加州 Carlsbad 舉辦的 SWTest Conference 2026，並於 Booth #302 展出多項專為半導體測試與自動測試設備打造的高可靠度訊號切換解決方案。

SWTest 是全球半導體測試產業的重要年度盛會，匯聚來自晶圓測試、封裝測試、探針卡(Probe Card)、ATE設備及相關供應鏈的專業人士，共同探討先進測試技術、高速訊號應用與未來產業趨勢。作為深耕半導體測試市場多年的訊號切換方案供應商，拓緯將藉由此次展會與全球客戶及合作夥伴交流最新技術發展與應用需求。

本次展出重點將涵蓋 光耦合繼電器、高壓磁簧繼電器以及射頻微機電開關模組等產品。其中，拓緯的射頻微機電開關模組可支援 DC 至 26GHz高頻訊號應用，具備低插入損耗、高線性度與超長使用壽命等特性；而光耦合繼電器與高壓磁簧繼電器產品則能滿足半導體測試、高壓量測及精密訊號切換等應用需求。

隨著 AI、高效能運算(HPC)、先進封裝及高速介面技術快速發展，測試架構對訊號完整性、切換速度及可靠度的要求持續提升。拓緯憑藉超過三十年的繼電器與開關技術經驗，持續投入新產品與新技術開發，協助客戶提升測試效率並因應下一世代半導體測試挑戰。

誠摯邀請所有與會貴賓蒞臨 Booth #302，與拓緯團隊面對面交流，共同探索半導體測試產業的最新技術與應用趨勢。

展會資訊

• 展覽名稱: SWTEST 2026
• 展覽期間: 2026.06.08-10
• 展覽地點: Omni La Costa Resort & Spa, Carlsbad, California, USA
• 拓緯攤位: 302
• 官方網站: https://www.swtest.org/