MEMS技術による耐久性の向上：リレーの寿命を1000倍に延ばす
Bright Towardは、さまざまなリレー技術の主要な製造業者であり、トランジスタ以来の最大の電子部品革新を市場に投入したMenlo Microと提携し、彼らの独自のモジュール設計においてIdeal Switch®を活用しています。
このケーススタディでは、現代の高強度半導体テストの現実と、Bright TowardがMenlo MicroのIdeal Switch®を用いてどのように革新を受け入れ、3桁の長寿命を持つスイッチングソリューションでEMRに似た性能を達成したのか、さらにそれを比較可能なEMRのサイズのほんの一部の全体パッケージでどのように実現したのかを探ります。
Menlo Microの技術を活用することで、Bright Towardエンジニアは新しいアーキテクチャを利用して、直感的でない方法でいくつかのアイディアルスイッチをカスケード接続し、隔離を大幅に減少させることなく、実質的に高い挿入損失を達成することができました。
課題
• 電気機械リレー（EMR）の故障が、許容できないダウンタイムとサービスリクエストを引き起こしていました。
• 固体スイッチなどの利用可能なソリューションは、EMRの絶縁、挿入損失、または直線性に匹敵せず、精密スイッチングアプリケーションのためのEMRを置き換える他の実行可能な選択肢は歴史的に存在しませんでした。
ソリューション
• サイクル集中的な半導体テスト環境におけるEMRの代替として、Menlo MicroのIdeal Switch®技術を探求します。
• 既存のEMRのドロップイン置換として完全に互換性のある統合ドライバーと通信を備えたEMR用のスイッチモジュールの置換を作成します。
MIXO Sパラメータ
結果
巧妙なエンジニアリングにより、Bright TowardはMenlo MicroのIdeal Switch®技術を使用して、顧客の期待を超えるEMRのような性能を達成することができました。
未来
Bright Towardは、Menlo MicroのIdeal Switch®技術を活用して、より高い周波数ソリューションとより複雑なスイッチングソリューションに移行しようとしています。
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