MEMS技術による耐久性の向上：リレーの寿命を1000倍に延ばす
リレー技術の多様な製造をリードするTowardは、トランジスタ以来の最大の電子部品革新を市場に投入したMenlo Microと提携し、彼らのユニークなモジュール設計においてIdeal Switch®を活用しました。
このケーススタディでは、現代の高強度半導体テストの現実と、TowardがMenlo MicroのIdeal Switch®を用いてどのように革新を受け入れ、3桁の長寿命を持つスイッチングソリューションでEMRに似た性能を達成したのか、さらにそれを比較可能なEMRのサイズのほんの一部の全体パッケージでどのように実現したのかを探ります。
Menlo Microの技術を活用することで、Towardのエンジニアは新しいアーキテクチャを利用して、直感的でない方法でいくつかのアイディアルスイッチをカスケード接続し、隔離を大幅に低下させることなく、実質的に高い挿入損失を達成することができました。
課題
• 電磁リレー(EMR)の故障が、許容できない量のダウンタイムとサービス要求を引き起こしていた。
• ソリッドステートスイッチなどの利用可能なソリューションでは、EMRの絶縁、挿入損失、または線形性に匹敵できず、精密スイッチング用途のEMR代替として歴史的に他の選択肢がなかった。
ソリューション
• サイクル集約型半導体テスト環境におけるEMR代替としてのMenlo Micro社のIdeal Switch®テクノロジーを探索する。
• 既存のEMRとの完全な互換性を持つ、統合ドライバーと通信機能を備えたEMR交換用スイッチモジュールを作成する。
MIXO Sパラメータ
結果
巧妙なエンジニアリングにより、TowardはMenlo MicroのIdeal Switch®技術を使用して、顧客の期待を超えるEMRのような性能を達成することができました。
未来
Towardは、Menlo MicroのIdeal Switch®技術を活用して、より高い周波数ソリューションとより複雑なスイッチングソリューションに移行しようとしています。
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